高低溫試驗(yàn)箱的試驗(yàn)方法與標(biāo)準(zhǔn)如何進(jìn)行選擇   
   高低溫試驗(yàn)箱通常被用來(lái)做高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)以及高低溫試驗(yàn)的組合，其各種試驗(yàn)的試驗(yàn)方法與標(biāo)準(zhǔn)選擇一般以以下為準(zhǔn)：

   高溫和低溫試驗(yàn)是zui常見(jiàn)的一種環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目。低溫試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生的影響主要使材料變成脆硬性，致使破損開(kāi)裂，強(qiáng)度降低，潤(rùn)滑作用減小，電子元器件性能引起變化等。高溫試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的影響主要表現(xiàn)在改變材料的物理性能和尺寸，不同的材料膨脹不一致使零件粘結(jié)，潤(rùn)滑劑外流使?jié)櫥芰p失，電器元件過(guò)熱損壞，電子電路穩(wěn)定性改變等。如對(duì)帶有塑膠件的產(chǎn)品這二項(xiàng)試驗(yàn)就很能夠暴露問(wèn)題。

    高溫和低溫試驗(yàn)試驗(yàn)一般安排在一套試驗(yàn)的早期，且為相信順序，這樣既能夠考核等高溫對(duì)的耐高溫和低溫能力也能夠達(dá)到耐溫變?cè)囼?yàn)的效果。高溫和低溫試驗(yàn)依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法A：低溫試驗(yàn)方法》和GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法B：高溫試驗(yàn)方法》。有散熱樣品溫度漸變和非散熱樣品溫度漸變所做的規(guī)定來(lái)選擇，分為高溫工作和低溫工作試驗(yàn)、高溫存儲(chǔ)和低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)，據(jù)實(shí)際樣品所屬是否散熱用工作和存儲(chǔ)兩種不同溫度點(diǎn)和產(chǎn)品狀態(tài)來(lái)進(jìn)行合適的考量。高溫和低溫工作試驗(yàn)的溫度嚴(yán)酷度一般低于存儲(chǔ)類(lèi)溫度5～10℃。在實(shí)際檢測(cè)中*行工作試驗(yàn)考核后再做關(guān)機(jī)狀態(tài)下存儲(chǔ)試驗(yàn)，對(duì)于部分大電流、高發(fā)熱的電器產(chǎn)品，其高溫工作試驗(yàn)可以代替高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)，因?yàn)槠涔ぷ鲿r(shí)溫度已經(jīng)超出其存儲(chǔ)溫度極限，故只需進(jìn)行高溫工作試驗(yàn)即可。常見(jiàn)的高溫工作試驗(yàn)溫度有：40℃、50℃，高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)溫度有：50℃、55℃，低溫工作試驗(yàn)有：0℃、-10℃、-20℃，低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)溫度有：-20℃、-40℃，工作試驗(yàn)時(shí)間2h～4h～8h，存儲(chǔ)試驗(yàn)8h～16h～24h。通常高溫和低溫試驗(yàn)?zāi)軌虮┞冻霎a(chǎn)品的缺陷如：外殼變形，電性能故障不能正常運(yùn)行等，從而達(dá)到整改的目的。如產(chǎn)品高溫可靠性試驗(yàn)也是高溫工作試驗(yàn)一種。

    高低溫組合也是覺(jué)的試驗(yàn)項(xiàng)目(推薦使用可程式高低溫試驗(yàn)箱)，多用來(lái)更嚴(yán)酷地考核產(chǎn)品內(nèi)外結(jié)構(gòu)性能和電性能。

a)溫度沖擊試驗(yàn)-溫度突變Na是目前常用來(lái)考核元器件和材料一種試驗(yàn)。高低溫沖擊試驗(yàn)是通過(guò)快速溫變來(lái)達(dá)到考核產(chǎn)品的目的，因?yàn)閷儆诜枪ぷ鳡顟B(tài)高低溫沖擊試驗(yàn)的指標(biāo)上、下限多采用高、低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)的上、下限，可參照試驗(yàn)樣品在高、低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)中獲得的的溫度響應(yīng)特性等信息。    b)溫度變化試驗(yàn)-溫度漸變Nb常用來(lái)考核整機(jī)試驗(yàn)。在試驗(yàn)中產(chǎn)品按要求可處于工作狀態(tài)，因此溫度變化試驗(yàn)的上、下限往往使用高、低溫工作試驗(yàn)的上、下限。這二項(xiàng)試驗(yàn)參照的標(biāo)準(zhǔn)有GB/T 2423.22-2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》等，根據(jù)實(shí)際要求選擇高溫點(diǎn)和低溫點(diǎn)，滯留時(shí)間，溫變速率，循環(huán)次數(shù)定試驗(yàn)等級(jí)。